• 1
  • 2
  • 3

SPECTRO XEPOS

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ED-XRF
SPECTRO_XEPOS_5
SPECTRO_XEPOS_7
Description

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii i spolaryzowanym promieniem rentgenowskim do analizy pierwiastków od sodu do uranu o limicie detekcji na poziomie ppm dla bardzo szerokiego zakresu zastosowań dla najbardziej wymagających aplikacji. Cechuje się wyśmienitą czułością dla lekkich, średnich i ciężkich pierwiastków. Posiada precyzyjny podajnik na próbki o różnych średnicach z możliwością obrotu próby podczas pomiaru.

Może zostać wyposażony w fabrycznie przygotowane kalibracje lub program Turboquant do bezwzorcowej analizy nieznanych prób.

Poprzez zastosowanie wzbudzenia przy użyciu promieniowania rentgenowskiego możliwa jest precyzyjna i nieniszcząca analiza składu chemicznego w ciałach stałych, proszkach i cieczach.

Zastosowanie:

  • przemysł petrochemiczny
  • plastiki, gumy, tekstylia
  • powłoki
  • ochrona środowiska
  • higiena przemysłowa
  • roztwory i zawiesiny
  • żywność, narkotyki, kosmetyki
  • przemysł farmaceutyczny
  • rudy, minerały i skały
  • celuloza i drewno
  • paliwa alternatywne
  • cement
  • metale szlachetne
  • kryminalistyka
  • archeologia
  • badania zbiorów muzealnych
  • recykling
  • i wiele, wiele innych

pdf-icon.png Pliki do pobrania: 

    SPECTRO_XEPOS_pl.pdf 

    SPECTRO_XEPOS_technDescription.pdf 

Wiadomość
1000 znaków pozostało