• 1
  • 2
  • 3

Dzięki spektrometrom z fluorescencją rentgenowskią  XRF (SPECTRO XEPOS i SPECTRO MIDEX ) oraz techniką ICP-OES SPECTRO GENESIS, SPECTROBLUE i SPECTRO ARCOS, SPECTRO oferuje skuteczne rozwiązania dla analitycznych wymagań do oznaczania substancji regulowanych w sprzęcie elektrycznym i elektronicznym - na przykład zgodnie z dyrektywą europejską RoHS (ograniczenie niebezpiecznych substancji w sprzęcie elektrycznym i elektronicznym) i ZSEIE (zużyty sprzęt elektryczny i elektroniczny).

Dyrektywa RoHS zabrania stosowania niebezpiecznych metali, kadmu, ołowiu i rtęci, a także sześciowartościowego chromu i bromowanych opóźniaczy płomienia zawierających PBB i PBDE. Dyrektywa ZSEIE reguluje jednocześnie minimalne kwoty recyklingu i ponownego wykorzystania odpadów elektrycznych i elektronicznych, dla których ważnym elementem wstępnym są produkty zawierające niski poziom substancji szkodliwych.

W IEC 62321 z zaleceniami dotyczącymi odpowiednich procedur analitycznych w ramach dyrektywy RoHS, Międzynarodowa Komisja Elektrotechniczna opisuje analizę fluorescencji rentgenowskiej (XRF RoHS) z jej minimalnymi wymaganiami dotyczącymi przygotowania próbki, jako nadającą się do szybkiego, ilościowego badania przesiewowego. Spektrometria ICP-OES, z jej bardziej złożonymi, ale znormalizowanymi procedurami przygotowywania próbek, jest również wskazana jako odpowiednie narzędzie do ilościowej analizy pierwiastkowej.

Wyników 1 - 4 z 4

Zgodność z RoHS

SPECTRO ARCOS

Wysokiej rozdzielczości jednoczesny spektrometr ICP-OES

SPECTRO BLUE

Jednoczesny spektrometr ICP-OES

SPECTRO XEPOS

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ED-XRF

SPECTRO GENESIS

Jednoczesny spektrometr ICP-OES

Wiadomość
1000 znaków pozostało